Please use this identifier to cite or link to this item: http://212.1.86.13:8080/xmlui/handle/123456789/510
Title: Модель структуры информационно-аналитической системы управления качеством процесса выращивания монокристаллов полупроводников
Other Titles: Justification rational choice of logistics transportation services
Authors: Шевченко, И. В.
Левыкин, В. М.
Keywords: информационно-аналитическая система
мониторинг
процесс выращивания
information-analytical system
monitoring
cultivation process
Issue Date: 7-Apr-2016
Publisher: Академія митної служби України
Citation: 1. Чернышов Е. М. Концепция, проблематика и структура современной системы управления качеством в производстве строительных материалов и изделий Е. М. Чернышов // Известия КГАСУ. – 2005. – № 2 (4). – С. 11–14. 2. Брячихин А. М. Управление качеством продукции строительства: методологические аспекты / Брячихин А. М. – М. : Стройиздат, 1982. – 176 с. 3. Суздаль В. С. Системы управления процессами получения монокристаллов из расплава / В. С. Суздаль, П. Е. Стадник // Функциональные материалы для науки и техники. – 2001. – С. 514–526. 4. Riedling K. Autonomous liquid encapsulated Czochralski (LEC) growth of single crystal GaAs by “intelligent” digital control K. Riedling / Journal of Crystal Growth. – 1988. – № 89. – Р. 435–446. 5. Gevelber M. Dynamics and control of the Czoch1ralski process. II. Objectives and control structure design M. Gevelber, G. Stephanopoulos, M. Wargo Journal of Crystal Growth. – 1988. – № 91. – Р. 199–217. 6. Nalbandyan H. G. Possibility of programming and optimal control of growth in the Czochralski technique / H. G. Nalbandyan // Journal of Crystal Growth. – 1984. – Vol. 67. – № 1. – Р. 115–118. 7. Оксанич А. П. Архітектура і функціональність дворівневої системи управління вирощуванням злитків кремнію / А. П. Оксанич, В. Р. Петренко, С. Е. Притчин // Радіоелектроніка та інформатика. – 2007. – № 4 (39). – С. 49–53.
Series/Report no.: Технічні науки;2013/2
Abstract: Предложена модель информационно-аналитической системы управления качеством процесса выращивания монокристаллов, содержащая подсистему мониторинга температурных полей, многокомпонентную математическую модель процесса выращивания, подсистему поддержки принятия оперативных решений по коррекции режима выращивания, подсистему оптимизации параметров теплового экрана ростовой установки.
URI: http://hdl.handle.net/123456789/510
ISSN: 2310-9645
Appears in Collections:2013/2

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
10.pdfЕлектронне видання338,91 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.